钢轨探伤工题库

58．带有斜楔的探头可用于（ B ）。

（A）双晶片垂直法探伤 （B）斜射法探伤 （C）纵波垂直法探伤 （D）反射法探伤

59．由三个或更多的压电晶片组装的探头，常称（ D ）。

（A）联合双探头 （B）分割式探头 （C）组合收发式探头 （D）阵列式探头

60．探头中产生和接收超声波的元件，称为（ C ）。

（A）背衬材料 （B）波形转换器 （C）压电晶片或换能器 （D）保护膜

61．使用天然石英晶体做换能器的缺点是（ B ）。

（A）在水中会溶解 （B）发射声波效率低 （C）机械和电气性能不稳定 （D）易老化 62．探头的频率取决于（ A ）。

（A）晶片的厚度 （B）晶片材料的声速 （C）晶片材料的声阻抗 （D）晶片材料的密度 63．选择较小尺寸的探头晶片探伤（ B ）。

（A）有利于发现缺陷 （B）不利于对缺陷定位 （C）可提高探伤灵敏度 （D）有利于对缺陷定位 64．探头中压电晶片厚度最大的是（ A ）。

（A）1MHz探头 （B）5MHz探头 （C）15MHz探头 （D）25MHz探头

65．连接超声波探伤仪和探头的电缆，是由一层导体将另一根带绝缘层的导线包在中 心，这种电缆称为（ C ）。

（A）BX电缆 （B）导线管

（C）同轴电缆 （D）超声传导电缆

66．在超声波探伤仪示波屏上能显示的信号最大高度，称为（ C ）。

（A）距离—振幅高度 （B）吸收电平 （C）垂直极限 （D）分辨率极限

67．盲区是超声波探伤系统重要的性能指标之一，因为它关系到（ D ）。

（A）检出平行于超声波束的缺陷 （B）检出位于锻件中心部位的小缺陷 （C）检出表面缺陷

（D）检出近表面的缺陷

68．描述超声波探伤系统区分两个相邻的缺陷回波能力的术语是（ D ）。 （A）灵敏度 （B）穿透力 （C）分离 （D）分辨率

69．在多数情况下，下列几种频率中能获得最佳分辨率的是（ C ）。 （A）1MHz （B）5MHz （C）10MHz （D）2.5MHz

70．表示声速、频率、波长三者关系的公式是C=λ2?，当波长变化时（ D ）。

（A）频率变化 （B）声速变化

（C）声速不变 （D）频率变化而声速不变

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71．超声波在钢中的纵波声速为（ B ）。 （A）2 730m/s （B）5 900m/s （C）3 230m/s （D）6 250m/s

72．超声波在钢中的横波声速为（ C ）。 （A）2 730m/s （B）5 900m/s （C）3 230m/s （D）6 250m/s

73．老杂轨地段，0°探头螺孔回波显示时探头移位较长的异常波形一般是（ D ）。 （A）大小孔 （B）双环孔 （C）导线孔 （D）拉长孔

74．按探伤使用目的，加工有一个或多个人工缺陷的金属块，称为（ D ）。

（A）清洗器 （B）晶片准直器 （C）角度调整器 （D）对比试块 75．超声波纵波又称为（ C ）。

（A）压缩波 （B）疏密波 （C）压缩波与疏密波 （D）剪切波 76．超声波横波又称为（ D ）。

（A）压缩波 （B）疏密波 （C） 压缩波与疏密波 （D）剪切波 77．对比试块的主要用途是（ C ）。

（A）帮助探伤人员获得最大底面回波 （B）在仪器上获得最大灵敏度

（C）获得一个一致的用来校正探伤灵敏度和对比缺陷大小的参考基准 （D）用来比较缺陷的大小 78．标准试块的材质形状尺寸和人工缺陷形式与对比试块的不同，主要表现在（ B ）。 （A）须与所检工件及要求检出的缺陷一样 （B）经过主管机关检定认可 （C）不一定有人工缺陷 （D）外表面必须精磨光滑

79．超声波在有机玻璃中的纵波声速为（ A ）。

（A）2 730m/s （B）5 900m/s （C）3 230m/s （D）6 250m/s

80．用对比或标准试块调整探伤装置或仪器的过程，称为（ D ）。 （A）角度调节 （B）对比 （C）衰减调节 （D）标定 81．粗糙的探测表面将导致（ D ）。

（A）缺陷回波幅度降低 （B）接收脉冲宽度增加 （C）盲区加大 （D）上述都对

82．为提高透入工件的超声波能量，在探头和探测面间施加一种介质，这种介质称为 （ B ）。

（A）湿润剂 （B）耦合剂 （C）传声剂 （D）润滑剂 83．超声波探伤时施加耦合剂的主要原因是（ B ）。 （A）润滑接触面尽量减少探头磨损

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（B）排除探头与探测面间的空气，否则几乎使超声波完全反射 （C）晶片与探测面直接接触时就不会振动 （D）使探头可靠地接地

84．钢轨探伤仪37°探头位置应置于（ B ）。

（A）轨头中心 （B）轨腰投影位置 （C）偏轨头内侧 （D）偏轨头外侧

85．探头在工件探测面上用手工或自动移动的过程，称为（ A ）。 （A）扫查 （B）测定 （C）校正 （D）调谐

86．将超声波以脉冲形式发射到被检工件内，然后根据接收到的回波情况来判断缺陷、 材质等方法，称为（ A ）。 （A）脉冲反射法 （B）连续波法 （C）共振法 （D）传透波法 87．将两个探头分别放在被检工件相对的表面上，其中一个探头发射另一个探头接收， 通过观察声波穿透试件后的声压变化情况进行探伤的方法，称为（ C ）。 （A）接触法 （B）表面波法 （C）穿透法 （D）莱姆波法

88．有缺陷存在，但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法，称为（ D ）。 （A）垂直法 （B）表面波法 （C）斜射法 （D）穿透法

89．能发现缺陷，但一般情况下不能测出它们深度的探伤方法是（ C ）。 （A）垂直法 （B）斜射法 （C）穿透法 （D）水浸法 90．探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（ A ）。 （A）斜射法 （B）水浸法 （C）接触法 （D）穿透法 91．使用与探测面相垂直的超声波束进行探伤的方法，称为（ A ）。 （A）垂直法 （B）共振法 （C）穿透法 （D）斜射法 92．探头与被检工件表面直接接触的方法，可用来作（ D ）。

（A）垂直法探伤 （B）表面波探伤 （C）斜射法探伤 （D）上述三者都可

93．将被检工件浸没在水或其他液体槽内进行探伤的方法，称为（ B ）。 （A）接触法 （B）液浸法 （C）表面波法 （D）穿透法 94．液浸探伤的优点是（ D ）。

（A）加快检验速度 （B）方便控制和保持波束方向 （C）适用于自动探伤 （D）上述都是

95．探伤时必须使用幅度报警闸门的方法是（ C ）。

（A）横波法 （B）纵波法

（C）自动超声探伤法 （D）手工超声探伤法 96．A型显示超声波接触法探伤图形中的始脉冲（不使用延迟扫描）是在（ A ）。 （A）示波屏最左侧的幅度较高的信号 （B）靠近示波屏右侧的第—个脉冲 （C）示波屏上时隐时现的一种信号 （D）示波屏左侧必定是第二个脉冲 97．一个垂直线性好的探伤仪，荧光屏上波幅从80％处降到5％时应衰减（ D ）。 （A）6dB （B）8dB （C）32dB （D）24dB

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98．探伤仪的分辨率主要与（ B ）有关。

（A）扫描电路 （B）频带宽度 （C）脉冲振铃时间 （D）放大倍数 99．折射角为90°时的入射角称为（ B ）。

（A）垂直入射角 （B）临界角 （C）最小反射角 （D）折射角

100．在两个不同材料的界面上决定反射量的因素是（ D ）。

（A）折射率 （B）超声波的频率 （C）杨氏模量 （D）声阻抗

101．在水/钢界面上，水中入射角为7°，在钢中主要存在的振动波形是（ C ）。

（A）纵波 （B）横波 （C）纵波和横波 （D）表面波

102．在声波到达工件底面之前，由于声束扩散在试件侧面可能导致（ C ）。

（A）多次底面反射 （B）多次界面反射 （C）波形的转换 （D）入射声能的损失

103．在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（ D ）。

（A）杂波 （B）始波 （C）发射脉冲 （D）底面回波

104．描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅信号的术语是（ C ）。

（A）底面多次回波 （B）探测面多次回波 （C）杂波 （D）共振信号 105．示波屏上显示的杂波主要来自（ C ）。

（A）裂纹 （B）大夹渣 （C）材料的粗晶 （D）气孔

106．在直接接触法探伤时，若仪器的重复频率调得过高，将会产生（ D ）。

（A）扫描线变暗 （B）时基线变形

（C）始脉冲消失 （D）示波屏上出现幻像波

107．在仪器示波屏上显示与缺陷无关信号来源有（ D ）。

（A）轮廓的反射 （B）侧面效应 （C）表面状态 （D）无穷多

108．通用探伤仪的水平线性误差测定应（ A ）。

（A）在CSK-1A试块探测厚度25mm的底面 （B）在CSK-1A试块探测厚度100mm的底面 （C）在CSK-1A试块探测厚度91mm的底面 （D）在CSK-1A试块探测半径50mm的圆弧面 109．0°探头分辨率的测定应使用（ A ）。

（A）CSK-1A试块85、91台阶底面 （B）CSK-1A试块φ40、44圆弧面 （C）WGT-1试块

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