超声检测实验

《超声检测学》 实 验 指 导 书

（机电学院测控技术及仪器专业使用）

彭光俊 赵志 编

武汉理工大学教材中心

2003年6月

第一部分 A型脉冲反射式超声探伤

系统工作性能测试

实验一 水平线性的测定

一、实验目的

学会使用超声波探伤仪，熟练掌握超声探伤系统水平线性的测试方法。 二、概要

水平线性即超声探伤仪对距离不同的反射体所产生的一系列回波的显示距离与反射体距离之间能够按比例方式显示的能力。

A型显示超声探伤仪示波管内的电子束受与时间成线性关系的扫描电压作用，而在水平方向扫描形成时间基线。由于反射体的回波位置是在有线性刻度的时间基线标尺上读出的，因此，水平扫描线（时间基线）的非线性会引起定位误差。本测试就是为了检查超声探伤系统的时基线性。

三、实验用品

仪器：CTS-22型超声波探伤仪 1台 探头：2.5P 20-D型直探头，2.5P 13×13 K1.5-D型斜探头 各1个 电缆：QQ9-2电缆线（带接头） 1条 试块：CSK-ⅠA型试块 1块 耦合剂：机油 1杯 工具：小螺丝刀 1把 四、实验内容及步骤

（一）采用直探头测定水平线性 1． 将探伤仪的[抑制]置于“0”， 其它调整取适当值。

2． 将直探头压在CSK-ⅠA型试 块的A位置，中间加适当的耦合剂，

以保持稳定的声耦合，如图1-1所示。

3． 调节[深度范围]、[深度微调]

和[脉冲移位]旋钮，使屏幕上显示出 图1-1 第6次底波。

4．调节[粗调衰减]、[细调衰减]和[增益]旋钮，当底波B1和B6的幅度分别为50%满刻

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度时，将它们的前沿分别对准刻度0和100（设水平全刻度为100格）。B1和B6的前沿位置在调整中如果相互影响，则应反复进行调整。

5．再依次分别地将底波动B2、B3、B4、B5调到50%满刻度，并分别读出底波B2、B3、B4、B5的前沿与刻度20、40、60、80的偏差α2、α3、α4、α5（以格数计），如图1-2所示，将数据填入表1-1。

表1-1 水平线性测试记录 底面回波次数 水平刻度读数 偏 差 1 2 3 4 5 6 6．取其中最大的偏差值αmax。 则水平线性误差ΔL为：

ΔL = | αmax | %

注意事项：图1-2中的B1～B6是分别调 到同一幅度，而不是同时达到此幅度。

（二）采用斜探头测定水平线性 采用斜探头测定水平线性的测试方 法与采用直探头测定水平线性的测试方 法相同。

五、实验报告要求

1． 列出实验数据，计算水平线性 误差。

2． 为什么读回波在水平标尺上的

位置时应将回波幅度分别调到某一相同

高度（如满刻度的50%）？ 图1-2

3．在水平线性误差很大的情况下，如何较精确地测定反射体深度？ 4．水平线性误差影响什么？

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实验二 垂直线性的测定

一、实验目的

熟练掌握超声探伤系统垂直性的测试方法。 二、概要

垂直线性即超声探伤仪的接收信号与荧光屏所显示的反射波幅度之间能按比例方式显示的能力。

当需要根据回波幅度评定缺陷时，A型显示超声波探伤仪荧光屏上显示出的信号幅度与输入到放大器的信号幅度是否呈线性关系具有重要意义。本测试是为了检查超声探伤仪增益线性和衰减器精度两者的综合效果。

三、实验用品

仪器：CTS-22型超声波探伤仪 1台 探头：2.5P 20-D型直探头，2.5P 13×13 K1.5-D型斜探头 各 1个 电缆：QQ9-2电缆线（带接头） 1条 试块：DB-PZ20-2型试块 1块 耦合剂：机油 1杯 工具：小螺丝刀 1把 四、实验内容及步骤

（一）采用直探头测定垂直线性 1． 探伤仪的[抑制]置于“0”，其 它调整取适当值。

2． 将直探头压在DB-PZ20-2型 试块的上表面中心位置，中间加适当 的耦合剂，并将平底孔的回波调至屏 幕上时基线的近中央处，如图2-1所示。

3． 调节[粗调衰减]、[细调衰减]、 [增益]和探头位置，使平底孔的回波

高度恰为100%满刻度，此时细调衰

减器至少应有30dB的衰减余量。 图2-1

4．以每次2dB的增量调节[细调衰减]，每次调节后，用满刻度的百分值记下回波幅度，一直继续到衰减值为26dB，测量精度为0.1%。将测试结果列入表2-1。测试值与波高理论值之差为偏差值。

5．从表中取最大正偏差d（+）和最大负偏差d（－）的绝对值之和为垂直线性误差Δd（以百分值计），它由下式给出：

?d?d(?)?d(?)%

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