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(2) START子程序:
START:MOV A, START
LCALL D20S ;调运转20S子程序 LCALL D10S ;调停10S子程序 LCALL FLASA5 ;调5次子程序 LCALL AD ;调测水程序 MOV A, P2.5
JC K JNZ K LCALL AD
LCALL FLASA16 JC FLASA16 JNZ FLASA16 MOV IE , P2.5 LCALL DELAY MOV IE, P2.5
JNB FH, TT DJN 20H, TT SETB FH LCALL AD (3) HEAT子程序:
HEAT:MOV A, HEAT
LCALL AD MOV A, P2.5
JC K JNZ K MOV IE, P2.5 MOV A, P2.4
LCALL AD
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;判断沸腾溢出 ;有沸腾溢出则转移 ;调沸腾溢出16次子程序 ;判断有16次了吗? ;有16次则转移 ;关加热器 ;调加热器子程序 ;等待20S ;判20S定时到否 ;20S到标志 ;调检水程序 ;判断沸腾溢出 ;有沸腾溢出则转移 ;没沸腾溢出则调检水程序
第 5 章 产品制作与调试
5.1 PCB板设计
印刷电路板(PCB)是电子产品中电路元件和器件的支掌件。它提供电路元件和器件之间的电气连接。随着电子技术的飞速发展,PCB设计的好坏对抗干扰能力影响很大。
要使电子电路获得最佳性能,元器件的布局及导线的布设很重要。为了设计质量好、造价低的PCB,应遵循以下的一般性原则。
(1) 布局
首先,要考虑PCB尺寸大小。PCB尺寸大时,印制线条长,阻抗增加,抗噪声能力下降,成本也增加;尺寸过小时,则散热不好,且邻近线条易受干扰。在确定
PCB尺寸后,再确定特殊元件的位置。最后,根据电路的功能单元,对电路的全部
元器件进行布局。
在确定特殊元件的位置时要遵守以下原则:
① 尽可能缩短高频元器件之间的连线,设法减少它们的分布参数和相互间的电磁干
扰。易受干扰的元器件不能相互挨得太近,输入和输出元件应尽量远离。
② 某些元器件或导线之间可能有较高的电位差,应加大它们之间的距离,以免放电
引出意外短路。带高电压的元器件应尽量布置在调试时手不易触及的地方。
③ 重量超过15g的元器件,应当用支架加以固定,然后焊接。那些又大又重、发热
量多的元器件,不宜装在印制板上,而应装在整机的机箱底板上,且应考虑散热问题。热敏元件应远离发热元件。
④ 对于电位器、可调电感器、可变电容器、微动开关等可调元件的布局应考虑整机
的结构要求。若是机内调节,应放在印制板上方便调节的地方;若是机外调节,其位置要与调节旋钮在机箱面板上的位置相适应。
⑤ 应留出印制板定位孔及固定支架所占用的位置。
根据电路的功能单元,对电路的全部元器件进行布局时,要符合以下原则:
① 按照电路的流程安排各个功能电路单元的位置,使布局便于信号流通,并使信号
尽可能保持一致的方向。
② 以每个功能电路的核心元件为中心,围绕它来进行布局。元器件应均匀、整齐、
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紧凑地排列在PCB板上。尽量减少和缩短各个元器件之间的引线和连接。
③ 在高频下工作的电路,要考虑元器件之间的分布参数。一般电路应尽可能使元器
件平行排列。这样,不但壮观,而且装焊容易,易于批量生产。
④ 位于电路板边缘的元器件,离电路板边缘一般不小于2mm。电路板的最佳形状
为矩形,长度比为3:2或4:3。电路板面尺寸大于200mm×150mm时,应考虑电路板所受的机械强度。
(2) 布线
布线应遵循以下原则:
① 输入输出端用的导线应尽量避免相邻平行。最好加线间地线,以免发生反馈耦合。 ② 印制板导线的最小宽度主要,由导线与绝缘基板间的黏附强度和流过它们的电流
值决定。当铜箔厚度为0.5mm、宽度为1~15mm时,通过2A的电流,温度不会高于3℃。因此,导线宽度为1.5mm可满足要求。对于集成电路,尤其是数字电路,通常选0.02~0.3mm导线宽度。当然,只要允许,还是尽可能用宽线,尤其是电源线和地线。导线的最小间距主要由最坏情况下的线间绝缘电阻和击穿电压决定。对于集成电路,尤其是数字电路,只要工艺允许,可使间距小于5~8mil。
③ 印制导线拐弯处一般取圆弧形,而直角或夹角在高频电路中会影响电气性能。此
外,应尽量避免使用大面积铜箔,否则,长时间受热时,易发生铜箔膨胀和脱落现象。必须用大面积铜箔时,最好用栅格状。这样利于排除铜箔与基板间黏合剂受热产生的挥发性气体。
(3) PCB及电路抗干扰措施 ① 电源线设计
根据印制线路板电流的大小,尽量加粗电源线宽度,减少环路电阻。同时,使电源线、地线的走向和数据传递的方向一致,这样有助于增强抗噪声能力。
② 地线设计
·正确选择单点接地与多点接地 ·数字地与模拟地分开 ·接地线应尽量加粗 ·接地线构成闭环路 ③ 退耦电容配置
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·电源输入端跨接10~100uF的电解电容器。如有可能,接100uF以上的电容更
好。
·原则上每个集成电路芯片都应布置一个0.01PF的瓷片电容,如遇印制板空隙不够,
可每个4~8个芯片布置一个1~10PF的钽电容。
·对于抗噪能力弱、关断时电源变化大的器件,如RAM、ROM存储器件,应在芯片的
电源线和地线之间直接入退耦电容。
·电容引线不能太长,尤其是高频旁路电容不能有引线。
·在印制板中有接触器、继电器、按钮等元件时,操作它们时均会产生;较大火花
放电,必须采用RC电路来吸收放电电流。一般R取1~2KΩ,C取2.2~47uF。
·CMOS的输入阻抗很高,且易受感应,因此在使用时对不用端要接地或接正电源。 5.2 元器件检测与元器件项目表 5.2.1 元器件检测 (1)电容的检测:
① 万用表电阻挡的正确选择
因为电解电容的容量较一般固定电容大得多,所以,应针对不同容量选用合
适的量程。根据经验,一般情况下,1~47UF间的电容,可用R*1K挡测量,大于47UF的电容可以用R*100挡测量。
② 测量漏电阻
将万用表红表笔接负极,黑表笔接正极。要刚接触的瞬间,万用表指针即向右
偏转较大幅度(对于同一电阻挡,容量越大,摆幅越大),接着逐渐向左回转,直到停在某一位置。然后,将红黑表笔对调,万用表指针将重复上述摆动现象。但此时所测阻值为电解电容的反向漏电阻,此值略小于正向漏电阻。即反向漏电流比正向漏电流要大。实际使用经验表明,电解电容的漏电阻一般应在几百K欧姆以上,否则,将不能正常工作。在测试中,若正向反向均无充电现象,即指针不动,则说明容量消失或内部短路,如果所测阻值很小或为零,说明电容漏电大或已击穿损坏,不能再使用。
③ 极性判别
对于正负极标志不明的电解电容器,可利用上述测量漏电阻的方法加以判
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