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第4章 X射线衍射仪实验技术与应用 Beijing China , 2010.09 He Chong Zhi
1. D8 X射线衍射仪系列系统与功能简介 2. 核心部件与功能 3. Bragg-Brentano 衍射几何
4. 光学系统及其参数选择对采集数据质量影响 5. 平行光束-Geobel 镜和掠射入射衍射 6. X射线透镜 7. 探测器
8. 控测、采集数据与测量条件 9. 非常态结构动态衍射分析
10. 应用X射线衍射仪衍射关心的具体问题 1. D8 X射线衍射仪系列系统与功能简介 配置光学编码器的测角仪 高精度的Dovetail导轨, 模块化的 光学器件快速互换 射线防护好:0.2 Sv/h 通过欧 洲安全论证,2 套安全电路
配置各种特殊功能的附件,即 可组成具有各种功能的衍射 仪系统,如高低温及不同气氛 与压力下的结构变化的动态 分析等。
在 D8 Advance 基础上,组建 D8 X射 线衍射仪系列产品。 D8 Advance D8 DISCOVER
单晶外延膜、薄膜分析高分辨衍射分析单晶外延膜的结构特征, 用Bond法超精度地测点阵参数、点阵错 配、化学组份,用Rocking曲线测定测算 嵌镶结构、取向,作倒易空间测绘; 用 于分析薄膜的厚度、密度、表面与界面 粗糙度等。 高精度的尤拉环 高强度的织构及应力测量
D8 GADDS 系统Fast phase ID microdiffraction percent crystallinity 功能:Powders, Texture, Stress,SAXS.
特点:Fast speed,Micro-diffraction, Versatility. fast stress fast texture 2D SAXS
GADDS - all applications with ONE instrument 18Kw 转靶 X射线衍射仪
X射线光源: X射线发生器最大输出功率≥18kW ;额定 电压20-
60kV; 最大额定电流450 mA;电流电压稳定度优于 ±0.01% (外电压波动10%时, X光源自旋转阳极; 光 源震动0.2 微米以下; 焦斑尺寸0.5 x 10 mm 测角仪: 扫描方式 θ/2θ测角仪,测角仪垂直放置;
测角仪采用光学编码器技术;角度重现性 0.0001?, 驱动方式:步进马达驱动; 最高定位速度:1500?/min
狭缝系统:包括索拉狭缝、发散狭缝、防散射狭缝、 接受狭缝等
闪烁计数器;线性范围:≥2 x 106 cps; 背底噪声: <0.5
cps,可配备闪烁计数器、万特探测器、固体探测器、面探测器
等。
循环水冷系统:要求连续工作; 控温精度≤±2℃; 供水流量, 满足发生器要求, 进水度可调; 过 热保护
最新X射线衍射技术-The New D8 ADVANCE with DAVINCI.DESIGN
DAVINCI.DESIGN: A revolutionary 3-level design DAVINCI.MODE Component Recognition DAVINCI.SNAP-LOCK Tool-free Change of Optics DIFFRAC.DAVINCI The Virtual Goniometer
DIFFRAC.DAVINCI=The Virtual Goniometer ?Graphical representation of the actual goniometer showing all mounted components plus their status
?Software validated instrument configuration with real-time conflict detection Dynamic list displaying all currently mounted components Component
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