当前位置:首页 > 数字电子技术(数电) 门电路逻辑功能测试实验要求指导书
实验一 门电路逻辑功能测试
一、实验目的
1.掌握CMOS、TTL集成与非门的逻辑功能测试方法。 2.掌握CMOS、TTL器件的使用规则。
3.熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法 二、实验内容
1.验证CMOS(TTL)集成与非门74HC00(74LS00)的逻辑功能。 2.74HC00(74LS00)电压传输特性测试。 三、实验设备及器件
数字电路实验台、74HC00(74LS00)、万用表 四、实验原理
1.芯片介绍
本实验采用二输入四与非门74HC00(74LS00),在一块集成块内含有四个相互独立的与非门,每个与非门有两个输入端,其引脚排列如图1所示。
图1 74LS00(74HC00)引脚图 与非门的逻辑功能实:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有0得1,全1得0)。
2.74HC00(74LS00)电压传输特性
门的输出电压VO随输入电压VI 而变化的曲线,称为门的电压传输特性,通过它可以读得门电路的一些重要参数,如输出高电平VOH、输出低电平VOL、阈值电压VTH、及
抗干扰容限等值。测试电路如图2所示。采用逐点测试法,及调节滑动变阻器,逐点测得VI和VO,然后绘制曲线。
图2 74HC00(74LS00)电压传输特性测试电路
五、实验步骤
1. 测试74HC00(74LS00)的逻辑功能
门的输入端接逻辑电平开关输出插口,以提供0与1电平信号,开关向上,输出为逻辑1,向下为逻辑0。门的输出端接由LED发光二极管组成的逻辑电平显示器(又称0-1指示器)的显示插口,LED亮为逻辑1,不亮为逻辑0。按表1逐个测试集成块中与非门的逻辑功能,判断芯片逻辑功能是否正常。
表1 74HC00(74LS00)逻辑功能
A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 Y 2. 测试相关数据,并绘制电压传输特性曲线图。
按图2接线,调节电位器RW,使VI 从0V向高电平变化,逐点测得VI和VO的 对
应值,记入表2中(芯片采用TTL门电路74LS00时,记入表3中)。表格记录数据也可自己设计。
表2
Ui(V) 0 Uo(v) 0.5 1.0 1.5 2.0 2.2 2.4 2.5 2.6 2.8 3.0 3.5 4.0 表3
Ui(V) 0 Uo(v) 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6 1.8 2.0 2.5 3.0 Ui(V) 4.5 5.0 Uo(v) Ui(V) 3.5 4.0 4.5 5.0 Uo(v) 六、实验总结
1. 写出本次实验学到的知识与技能。 2. 写出实验中遇到的问题,解决的方法。
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