单片机原理与应用实验指导书(201203) - 图文

实验二 I/O口实验

一、实验目的：

（1）学习单片机I/O口的使用方法； （2）学习延时子程序的编写；

（3）掌握基本的单片机硬件调试方法。

二、实验预备知识：

（1）P1口为准双向口，每位都可独立地定义为输入或输出，在作输入使用前，必须向口锁存器相应位写入“1”，该位才能作为输入；

（2）本实验中延时子程序采用循环来实现，定时时间=机器周期时间*程序总机器周期数（本实验箱晶振频率为11.0592 MHz）。

三、实验内容：

P1口做输出口，接八只发光二极管，编写程序，使发光二极管循环点亮。 （1）左移点亮1只发光二极管； （2）右移点亮1只发光二极管； （3）左移点亮2只相邻发光二极管； （4）右移点亮2只相邻发光二极管。

18

四、实验程序框图

给出实验内容（1）参考流程图，其余内容自行设计。

五、实验硬件连线

将P10---P17按顺序连接到LED1---LED8

+5V延 时 A左移一位 开 始 P1口初始化 点亮1位发光管 LD26_1LD26_2LD26_3LD26_4LD26_5LD26_6LD26_7R26_1LED1R26_2LED2R26_3LED3R26_4LED4R26_5LED5R26_6LED6R26_7LED7R26_8LED8LD26_8

六、实验思考

（1）修改延时常数，改变发光二极管闪亮时间； （2）修改程序，改变发光二极管闪亮个数、方向。

19

实验三 定时器实验

一、实验目的：

（1）学习单片机定时器的使用方法； （2）掌握单片机长定时方法；

（3）掌握基本的单片机定时器调试方法。

二、实验预备知识：

本实验箱晶振频率为11.0592 MHz，定时器工作方式1下最长定时时间为65536 us，如果要求定时时间大于此值，则可采用多次定时方法来实现长定时。

三、实验内容：

编写程序，使定时器每500 ms对内部RAM单元40H的内容加1，然后用P1口控制的8只发光二极管显示40H单元的二进制数值。

四、实验思考

修改定时时间，改变数值显示速度。

20

实验四 A/D、D/A转换实验

一、实验目的

1、掌握A/D、D/A转换芯片与单片机接口的方法； 2、了解A/D芯片ADC0809转换性能及编程方法； 3、了解D/A芯片DAC0832转换性能及编程方法； 4、了解如何通过A/D转换进行数据采集的基本方法； 5、了解如何通过D/A转换进行数字控制的基本方法。 二、实验内容

利用实验系统上的电位器提供ADC0809的模拟量输入，A/D转换后数字量送入DAC0832，产生模拟量输出，用电压表测量比较电位器输出电压和D/A输出电压。

三、实验预备知识

1、ADC0809是带8位A/D转换器，8路开关以及微处理机兼容的控制逻辑的CMOS组件，它是逐次逼近式A/D转换器，可以和单片机直接相连。

2、由于DAC0832为电流输出，为取得电压输出，需在电流输出端Iout1、Iout2分别接上运算放大器LM324的B-、B+；使Rfd与LM324的BOUT连接，Rfd即为运算放大器的负反馈电阻端；由于Vref=5V，所以由运算放大器输出电压（测试点BOUT）为负电压(0到-5V)。

21