电子元器件检验规范标准书

电子元器件检验规范标准书

修订 日期 2011/03/30 修订 单号 / 修订内容摘要 系统文件新制定 页版次 次 4 A/0 修订 / 审核 / 批准 / 批准： 审核： 编制： 部分电子元器件检验规范标准书

IC类检验规范(包括BGA)

1.目的 2.适用范围 3.抽样计划 作为IQC人员检验IC类物料之依据。 适用于本公司所有IC（包括BGA）之检验。 依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。 严重缺点(CR):0; 4.允收水准（AQL） 5.参考文件 检验项目 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5. 无 缺陷属性 缺陷描述 a. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 检验方式 备注 包装检验 MA 都正确,任何有误,均不可接受。 b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。 a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受； 目检 目检 点数 数量检验 MA b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接 受。 a.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受； b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受； c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受； 目检或 10倍以上的放大镜 外观检验 MA d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超 过0.5mm,且未露出基质,可接受；否则不可接受； e.Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受； f.元件脚弯曲，偏位,缺损或少脚，均不可接受； 2检验时，必须佩带静电带。 备注：凡用于真空完全密闭方式包装的IC，由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，IQC仅进行包装检验，并加盖免检印章；该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH对应的位置有没有变成粉红色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。 （三）贴片元件检验规范(电容,电阻,电感…)

1.目的 2.适用范围 3.抽样计划 4.允收水准（AQL） 便于IQC人员检验贴片元件类物料。 适用于本公司所有贴片元件（电容,电阻,电感…）之检验。 依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。 严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5. 《LCR数字电桥操作指引》 5.参考文件 检验项目 《数字万用表操作指引》 缺陷属性 a. 缺陷描述 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正检验方式 备注 包装检验 MA 确,任何有误,均不可接受。 b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。 目检 数量检验 MA a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受； 目检 点数 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。 a. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受； b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受； 外观检验 MA c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受； d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm,且未露出基质,可接受；否则不可接受； e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受； 2目检 10倍以上的放大镜 检验时，必须佩带静电带。 电性检验 MA 元件实际测量值超出偏差范围内. LCR测试仪 数字万用表 检验时，必须佩带静电带。 二极管类型 检测方法 选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极 LED 管不合格。 注：有标记的一端为负极。 其它二极管 选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。 注：有颜色标记的一端为负极。 抽样计划说明：对于CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每 备注 盘中取3~5pcs元件进行检测；AQL不变。检验方法见＂LCR数字电桥测试仪操作指引＂和＂ 数字万用表操作指引＂。 （四）插件用电解电容.

1.目的 2.适用范围 3.抽样计划 4.允收水准（AQL） 作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。 适用于本公司所有插件用电解电容之检验。 依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。 严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5. 《LCR数字电桥操作指引》、 5.参考文件 《数字电容表操作指引》。 检验项目 包装检验 缺陷属性 MA a. 缺陷描述 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 检验方式 目检 备注 都正确,任何有误,均不可接受。 a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受； 数量检验 MA b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接 受。 目检 点数 a.极性等标记符号印刷不清，难以辨认不可接受； 外观检验 MA b.电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受； c.本体变形，破损等不可接受； d.Pin生锈氧化，均不可接受。 a.Pin上锡不良，或完全不上锡不可接受。(将PIN沾上现使用可焊性检验 MA 之合格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收) 实际操作 每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性 若用于新的尺寸规格检验 MA a.外形尺寸不符合规格要求不可接受。 卡尺 Model，需在PCB上对应的位置进行试插 用数字电容表电性检验 目检 MA a. 电容值超出规格要求则不可接受。 或LCR数字电桥测试仪量测 （五）晶体类检验规范

1.目的 2.适用范围 3.抽样计划 作为IQC人员检验晶体类物料之依据。 适用于本公司所用晶体之检验。 依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。 严重缺点(CR):0; 4.允收水准（AQL） 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5. 5.参考文件 检验项目 包装检验 《数字频率计操作指引》 缺陷属性 MA a. 缺陷描述 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都 检验方式 目检 备注 正确,任何有误,均不可接受。 a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受； 数量检验 MA b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接 受。 a.字体模糊不清，难以辨认不可接受； 目检 点数 每LOT取目检 5~10PCS在小锡炉上验证上锡性 测试工位 和数字频率计 外观检验 MA b.有不同规格的晶体混装在一起，不可接受； c. 元件变形，或受损露出本体等不可接受； d. Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin，均不可接受。 a.晶体不能起振不可接受； b.测量值超出晶体的频率范围则不可接受。 电性检验 MA