TTL与非门逻辑功能测试

实验 TTL与非门逻辑功能测试

一、 实验目的

1.熟悉集成门电路的外观和引线排列 2.掌握TTL与非门逻辑功能

二、 实验设备

5VDC电源、面包板、数字万用表、导线若干、逻辑电平指示器一组、逻辑开关一组、4输入端双与非门（74LS20）、双输入端四与非门（74LS00）

三、 实验内容及要求

1.测试74LS20与非门的逻辑功能

（1）画出实验电路图，设计实验表格（包括输入端的各种逻辑状态、输出端的逻辑状态及电平）。

（2）搭试电路验证，用万用表测量输出电压。

2.用74LS00芯片组成与、或、或非门电路（均为2输入端）

（1）写出逻辑表达式，画出实验电路图，标明各管脚；（2）搭试电路进行验证；（3）列状态表验证结果。

3.用74LS00芯片组成异或门电路

（1）写出逻辑表达式，画出实验电路图；（2）搭试电路进行验证；（3）列状态表验证结果。

四、思考题

1.逻辑值“1”是否是指电平为1V？

2.在逻辑开关电路原理图中，没有1KΩ限流电阻行不行？为什么？ 3.在逻辑电平指示器电路原理图中，没有300Ω限流电阻行不行？为什么？

五、 附录

1.逻辑开关及作用

如图１所示，利用1kΩ电阻作为限流电阻，电键作为逻辑值输入（当电键按下，相对应的端子输出逻辑值“0”；当未按下电键，输出逻辑值为“1”）。

图1 逻辑开关电路原理图

图2 逻辑电平指示器

2.逻辑电平指示器及作用

为了便于检验逻辑电路的输出逻辑值，我们采用发光二极管电路来检验逻辑电平的高低。如图2所示，当某输入端为低电平时，对应的发光二极管不亮；当某输入端为高电平时，对应的发光二极管亮。 3.有关芯片外引线排列图

如图3所示，分别为74LS20及74LS00芯片外引线排列图。

图3 芯片外引线排列图