实验六 8259A硬件中断实验

LED: DB 03H,9FH,25H,0DH,99H,49H,41H,1FH,01H,09H ; 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 CODE ENDS END START

实验十一两个多位十进制数相减 一.实验要求

将两个多位十进制数相减，要求被减数，减数均以ASCII码形式按顺序存放在以DATA1和DATA2为首的5个内存单元中（低位在前），结果送回DATA1处。 二.实验目的

学习数据传送和算术运算指令的用法。

熟悉在PC机上建立、汇编、链接、调试和运行汇编语言程序的过程。 三.实验程序框图

开始显示减数和被减数被减数和减数转换成十六进制数设置计数值清除最低进位位带进位减结果送被减数区调整偏移量N计数值-1=0Y结果转换成ASCII码字符串显示结果结束

四．实验程序： DATA SEGMENT

DATA1 DB 33H,39H,31H,37H,38H ;第一个数据（作为被减数） DATA2 DB 36H,35H,30H,38H,32H ;第二个数据（作为减数） MES1 DB '-','$'

MES2 DB '=','$' DATA ENDS

STACK SEGMENT ;堆栈段 STA DB 20 DUP(?)

TOP EQU LENGTH STA STACK ENDS CODE SEGMENT

ASSUME CS:CODE,DS:DATA,SS:STACK,ES:DATA START: MOV AX,DATA MOV MOV MOV MOV MOV MOV MOV MOV CALL MOV LEA INT MOV MOV CALL MOV LEA INT MOV MOV CALL MOV MOV CALL MOV MOV INT MOV MOV INT INT MOV INT DISPL PROC DSI: MOV

DS,AX ES,AX

AX,STACK SS,AX AX,TOP SP,AX

SI,OFFSET DATA1 BX,05

DISPL ;显示被减数 AH,09H DX,MES1 21H

SI,OFFSET DATA2

BX,05 ;显示减数 DISPL AH,09H DX,MES2 21H

SI,OFFSET DATA1 DI,OFFSET DATA2

SUBA ;减法运算 SI,OFFSET DATA1

BX,05 ;显示结果 DISPL DL,0DH AH,02H 21H DL,0AH AH,02H 21H 21H

AX,4C00H 21H

NEAR ;显示子功能AH,02

MOV DL,[SI+BX-1] ;显示字符串中一字符 INT 21H

DEC BX ;修改偏移量 JNZ DSI RET DISPL ENDP

SUBA PROC NEAR MOV DX,SI MOV BP,DI MOV SU1: SUB SUB DEC JNZ MOV MOV MOV CLC SU2: MOV MOV SBB AAS MOV INC INC LOOP MOV MOV MOV SU3: ADD ADD DEC JNZ RET SUBA ENDP CODE ENDS END

BX,05

BYTE PTR[SI+BX-1],30H BYTE PTR[DI+BX-1],30H

BX ;将ASCII 码表示的数字串 SU1 ;转化为十六进制的数字串 SI,DX DI,BP

CX,05 ;包括进位,共5位 ;清进单位 AL,[SI] BL,[DI]

AL,BL ;带进位相减

;非组合BCD码的减法调整 [SI],AL ;结果送被减数区 SI

DI ;指向下一位 SU2 ;循环 SI,DX DI,BP BX,05

BYTE PTR [SI+BX-1],30H BYTE PTR [DI+BX-1],30H

BX ;十六进制的数字串转化ASCII码表示的数字串 SU3 START

实验九 A/D转换实验 一.实验要求

编程用查询方式采样电位器输入电压，并将采样到的结果实时地通过8279显示在数码管上。（只须显示一位即可。用0~F表示0~+5V电压）。 二.实验目的

1.掌握A/D芯片AD0809的转换性能及编程方法。

2.学习A/D芯片与其他芯片（如8279）接口的方法，初步建立系统的概念。 三.实验电路及连线

CS8279已固定接至88译码238H插孔，A/D的CS0809插孔接译码处208H插孔， 0809的IN0接至19模块电位器PR3的中心抽头插孔。 四.实验说明

本实验中所用A/D转换芯片为逐次逼近型，精度为8位，每转换一次约100微秒，所以程序若为查询式,则在启动后要加适当延时。另外，0809芯片提供转换完成信号（EOC），利用此信号可实现中断采集。

开始读A/D值显示采样值五.实验程序框图

六．实验程序：

Z8279 EQU 239H D8279 EQU 238H