X射线复习和思考题

为偶数

34、物相定性分析的基本方法是什么？

答：将由试样测得的衍射花样的d-I数据组与已知结构的标准衍射花样的d-I数据组(PDF卡片)进行对比，从而鉴定出试样中存在的物相。

35、滤波片元素的选择规则是什么？

答：（1）选靶规则：当Z靶 < Z样; Z靶 = Z样＋1; Z靶 >> Z样时, 可避免激发样品的荧光辐射。

（2）滤波片元素的选择规则在X射线源和样品之间放置滤波片，以吸收

K?，保留K? ，产生单一的衍射花样。

当Z靶 <40时，Z滤＝Z靶－1； 当Z靶 >40时，Z滤＝Z靶－2

36、影响X射线连续谱强度的因素是什么？影响短波限的因素是什么？

答：影响X射线连续谱强度的因素是管电压V、电流i、靶材原子序数Z三因素，即

I连??I（?） d???izV2，式中，α为常数。

?0?（1）当管电流不变时，V↑→ ?0↓→I(?) 曲线上移 （2）当管电压不变时， i ↑ → I(?)曲线上移 (?0不变）

（3) 在相同的管电压和电流下,靶材原子序数（Z） ↑ → I(?)曲线上移 (?0不

变） 由?0?

1.24nm，影响短波限的因素是管电压。 V(kV)37、计算简单点阵晶胞的F

f，

代入结构因子表达式：

n2

HKL值与|FHKL| 值？推导出其消光规律。

解：简单点阵，每个阵胞只包含一个原子，其坐标为(0, 0, 0)，原子散射因子为

FHKL??fjexp(2?i(Hxj?Kyj?Lzj))

j?1得：FHKL?fexp(2?i(0?0?0))?fexp(0)?f 则FHKL2?f2

所以，在简单点阵晶胞情况下，FHKL不受HKL的影响，即HKL为任

意整数时都不能产生消光。

38、粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何？为什么？板状多晶体样

品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何？

答：（1）粉末样品颗粒过大会使德拜花样（衍射弧对）不连续；样品颗粒过小，德拜宽度增大，不利于分析工作的进行。这是因为当粉末颗粒过大（大于10-3cm）时，参加衍射的晶粒数减少，会使衍射线条不连续；当粉末颗粒过细（小于10-5cm）时，会使衍射线条变宽，这些都不利于分析工作。

（2）当板状多晶体样品晶粒过大时，参与反射的晶面数量有限，所以发生反射

的概率变小，这样会使得某些衍射峰强度变小或不出现；而当多晶体的块状试样，如果晶粒足够细将得到与粉末试样相似的结果，即衍射峰宽化。