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苏州科技学院本科生毕业设计
图4.4.c Yb:YAG样品化学抛光1.5hour在AFM下的表面形貌
图4.4为Yb:YAG样品化学抛光1.5hour在AFM下的表面形貌。观察表面形貌图,晶体表面布满了腐蚀坑,其中较深的坑,深度有15nm左右,表面粗糙度为5.980nm,比抛光前的表面更粗糙,这是抛光过度的表现。可见并不是抛光时间越长,抛光效果越好。表2列出了抛光前、抛光30分钟,抛光1小时和抛光1.5小时的样品的表面形貌情况。
表4.2 各样品的表面形貌 抛光时间 抛光前 抛光30分钟 表面形貌 划痕交错深浅的分布在晶体表面。较深的划痕有5nm左右。 与抛光前相比表面粗糙度有所好转,这种变化是我们乐见的,但还是可以观察到明显的长长的划痕,所以有必要对其进行进一步的化学抛光。 表面非常的平整光滑,较深的坑也只有0.5nm左右,较抛光前和抛光30min都要好。 晶体表面布满了腐蚀坑,其中较深的坑,深度有15nm左右。 表面粗糙度 1.126nm 0.8948nm 抛光1小时 抛光1.5小时 0.3536 nm 5.980nm 4.3 晶体表面的原子力显微镜分析(2)
通过比较这几组情形,发现用H2SO4、H2O2体积比为1∶1作为抛光液,在室温下,采用不同的抛光时间对晶片进行化学抛光,其中抛光时间为1hour抛光效果最好。为得到更精确地实验结果,在接近1小时的前面与后面各取一个抛光时间点,又进行了两组实验,即抛光45min和抛光1小时15分钟。列表如下:
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苏州科技学院本科生毕业设计 表4.3 样品抛光环境
抛光时间 抛光45分钟 抛光1小时15分钟 抛光晶体 Yb:YAG 抛光温度 室温 抛光液 体积比为1∶1 的H2SO4与H2O2
1 抛光45min
图4.5.a Yb:YAG样品化学抛光45min在显微镜下的表面形貌
图4.5.a为Yb:YAG样品化学抛光45min在显微镜下的表面形貌。晶体表面还算光滑,没有大的斑痕,但是可以看到表面分布有一些较大的坑点,明显没有抛光1小时的效果好。这是抛光不充分的结果。继续对其进行AFM检测。
图4.5.b Yb:YAG样品化学抛光45min 图4.5.c Yb:YAG样品化学抛光45min
在AFM下的平面表面形貌图 在AFM下的立体表面形貌图
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图4.5.d Yb:YAG样品化学抛光45min在AFM下的表面形貌
图4.5.b-4.5.d为Yb:YAG样品化学抛光45min在AFM下的表面形貌。从图中已看不到大的、明显的划痕了,但可以看到一些腐蚀坑,坑的深度可达4.6nm左右,表面表面粗糙度为1.067 nm,比抛光前好一些,但是不如抛光1小时的效果。进一步说明了抛光不充分。 2 抛光1h15min
图4.6.a Yb:YAG样品化学抛光1.25hour在显微镜下的表面形貌
图4.6.a为Yb:YAG样品化学抛光1.25hour在显微镜下的表面形貌。表面可见坑坑洼洼,抛光效果也不如抛光1小时的好。可见是抛光过度的结果。接下来对其进行AFM检测。
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图4.6.b Yb:YAG样品化学抛光1.25hour 图4.6.c Yb:YAG样品化学抛光1.25hour
在AFM下的平面表面形貌图 在AFM下的立体表面形貌图
图4.6.d Yb:YAG样品化学抛光1.25hour在AFM下的表面形貌。
图4.6.b-4.6.d为Yb:YAG样品化学抛光1.25hour在AFM下的表面形貌。抛光1.25hour,从表面形貌图上可以看到很多明显的腐蚀坑,坑的深度可达11nm左右,表面粗糙度为4.846nm,远远不如抛光45min,当然更不如抛光1小时效果好。表4
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