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由于射线进入物质后，其衰减决定于射线的波长和物质的成分，一般把射线在物质中的衰减分为单色射线的衰减和连续谱的衰减。
2 单色窄束射线的衰减规律
在单色射线的衰减中，X射线与单一物质的作用最为简单。
设入射的初始强度为I0，通过物质的厚度为T，射线能量的线衰减系数为μ。由于射线在物质中的衰减是连续变化的，分析时可以用微分分析方法。已知在均匀的介质中，在很小的厚度上衰减量与X射线的入射强度、穿透厚度成正比，有ΔI=-μIΔT，对其积分可得IT=I0 μ
e-T。
因为射线的衰减包括能量转换（吸收）和散射，所以射线的衰减系数μ是吸收系数τ和散射系数σ之和，即μ=τ+σ。
由于物质密度越大，射线在物质传播时碰到的原子也越多，因而射线衰减也越大。为便于比较起见，通常采用质量衰减系数，即
μm=μ/ρ=τ/ρ+σ/ρ
式中ρ为物质的密度；τ/ρ为质量吸收系数；σ/ρ为质量散射系数。 射线的质量吸收系数和散射系数表示如下： τ/ρ=C/A·Z4λ3； σ/ρ=0.4·Z/A
式中C为常数；A为元素的质量数；Z为元素的原子序数；λ为射线的波长。 可以看出，对于低能的X射线在原子序数高的物质中，衰减系数较大。 对于化合物和混合物
μm=W1μm1 +W2μm2 +W3μm3+…
式中W1、W2、W3等是各元素在化合物和混合物中的百分比，μm是各物质所对应的质
量衰减系数。
半价层Th是射线强度衰减到原来一半时所对应的厚度。 Th=ln2/μ=0.693/μ
3 宽束连续谱的衰减规律
连续谱的射线特点是：射线波长从最短波长开始，含有很大范围的波长，所以在物质中连续谱的衰减系数不能以任何一个波长的衰减系数来代替。分析时往往以一个等效波长来进行相似的计算。即等效波长的半价层和连续谱的半价层相同。
同时，宽束射线存在有散射射线，所以常常引入一个散射因子，记为n，衰减规律表示
μ
为IT=（1+n）I0e-T
μ
或记为IT=BI0e-T 其中B为积累因子。
在连续谱射线的衰减过程中，虽然射线的整体能量下降了，但是由于低能的X光子先被吸收，使得在经过吸收后，X射线的平均能量反而升高的现象，称为X射线的硬化。
宽束连续谱的衰减曲线
3 射线检测的基本原理和方法
1 X射线检测原理
由于物体中存在缺陷的部位对X射线的吸收与其他均匀部分不同，经X射线投照以后，在物体后出射的射线的强度将产生不同的分布，也就是这种出射方向上的射线强度差异可以反映被检物体的内部缺陷。这就是X射线检测的基本原理。
均匀的射线在照射被检物体时，射线能量的衰减程度与X射线的能量、被穿透物体的厚度、质量和密度都有关系。
在厚度相同时，与密度相关；对均匀物体，只是和厚度有关。如果缺陷的特性和物体的特性相似，则很难检测出缺陷。
下图中假设器件是均匀材质，但是中间存在有缺陷（B），外形也有不规则（A）。
则在出射方向上有：
其他部位：
如果B的缺陷并非气孔，而是一种吸收系数为μ’的某种缺陷时，则出射强度为：
若μ’<μ，IB >I，如钢焊缝中气孔、夹渣，缺陷呈黑色影像 若μ’>μ，IB 2 射线检测方法 射线透射被检测的物体后，其出射的X射线强度的分布称为X光影像，由于X射线是不可见的，必须利用方法将其转换的可见得影像才能进行识别、分析。这就是X射线检测方法的区别。 可以分为四类：照相法（包括放大照相法、闪光照相法）；电离检测法；荧光屏直接观察法；电视观察法。 1.照相法 利用X射线的化学作用使得胶片上的感光材料感光，再进行胶片的处理后，在胶片上 得到可永久保存的随X光影像分布可见的明暗图像。 特点：灵敏度高、直观可靠、重复性好。 照相法 2.电离检测法 利用X射线的电离作用，在与气体分子相撞击时，部分气体分子产生电离，形成正离子、负离子。电离效应产生的电离电流的大小与射线强度有关，检查出电离室的电流大小，就可以判断缺陷是否存在。 特点：自动化操作，适用于形状简单、表面平整工件，定性较难。 电离检测法 3.荧光屏直接观察法 利用X射线的荧光作用使荧光物质产生荧光（荧光的强度和入射的X射线成正比），得到明暗分布的可见光图像。 特点：成本低，效率高，可连续检测；但只适用形状简单、要求不严的产品。
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