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电工学(Ⅱ):电子技术

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  • 2025/5/6 9:45:25

第1章常用半导体器件

半导体器件是用半导体材料制成的电子器件,最常用的有二极管、三极管、场效应管、晶闸管、单结晶体管等。随着电子技术的飞速发展,各种新型半导体器件层出不穷,几乎所有电子设备都离不开半导体器件。因此,全面了解各种半导体器件的结构特点、工作原理、技术参数和性能及其适用范围,是学好电子技术的关键所在。

1.1半导体基础知识

自然界中的物质可以按导电能力的强弱分为导体、绝缘体和半导体。导电能力强的物质称为导体

,不导电的物质称为绝缘体,导电能力介于导体和绝缘体之间的物质称为半导体(如硅、锗、硒等)。

半导体之所以得到广泛的应用,

是因为它具有热敏感性、光敏感性、掺杂敏感性等特殊性能。

1.1.1本征半导体

图11本征半导体结构模型

经过高度提纯(99.9999999%,简称9个9)、晶体结构完整有序的半导体称为本征半导体。目前用来制造半导体器件的材料主要是单晶硅(Si)、单晶锗(Ge)和砷化镓(GaAs)等。硅和锗都是4价元素,其原子序数分别为14和32。它们的原子结构如图11(a)所示,最外层轨道上都有4个电子,称为价电子。

在本征半导体(硅或锗)的单晶体结构中,原子在空间有规律地整齐排列,组成一定形式的 晶格点阵。由于晶体中相邻原子间的距离很近,相互影响大,价电子受到所属原子核及相邻 原子核的共同约束,使1个价电子为相邻2个原子所共有,形成了晶体中的共价

键结构,如图11(b)所示。这样,晶体中每个原子的4个价电子都与相邻4个原子

的价电子分别组成4对共价键,相当于每个原子核最外层有8个等效价电子,这是稳定的原子结构 。

共价键内的2个电子叫做束缚电子。在热力学温标零度(T=0K)或无外界

能量激发时,由于共价键的束缚力很强,价电子不易挣脱原子核束缚而成为自由电子,因此,本征半导体的载流子数目有限,其导电能力很差。这时即使有(不太强的)外电场作用,也不会产生电流,呈现绝缘性。

当温度上升时,一些价电子因原子的热运动而获得足够的能量,使之可以脱离共价键的束缚

为自由电子,这种现象叫做本征激发。自由电子是本身带有负 电荷的粒子,在外电场作用下可

以定向运动形成电流。当价电子脱离共价键后,共价键中就留下了1个空位,称为 空穴。由

于原子外层轨道的能级相同,空穴很容易被任一相邻共价键中的价电子所填充,所以空 穴可以在共价键中“自由移动”。注意,空穴所在原子缺少1个电子,相当于带有1个正电荷 ,空穴的移动可视为正电荷的移动,因而可以把空穴看成是带1个正电荷的粒子,它在 外电

场作用下也可以定向运动而形成电流。带有电荷的自由电子和空穴都称为载流子,它们的定 向运动是半导体导电的内部机制,即半导体中的电流是电子电流和空穴电流之和。

在本征半导体内,自由电子和空穴总是相伴出现的,所以本征半导体中自由电子和空穴数 目是相等的。半导体内部除了本征激发产生电子空穴对以外,电子和空穴在

无规则的游离状态下,也会相遇而互相填补,使自由电子和空穴一同消失,这一过程称为载 流子的复合。

电子空穴对同时产生、同时消失。在一定温度下,它们的产生、复合在持续

不断地进行,使载流子数目在变化中处于一种动态平衡,半导体中的载流子浓度将保持一定 的数值。温度升高时本征激发使电子空穴对数目相对增多。理论分析表明,

载流子浓度会随温度的升高按指数规律增大,在电场一定的情况下,本征半导体内载流子数目越多,电流

就越大。所以,温度是影响半导体性能的一个很重要的因素。另外,光照、辐射等外界条件的加

强都会使半导体导电能力增大。

1.1.2杂质半导体

如上所述,影响半导体性能的另外一个因素是在本征半导体中掺入微量杂质,形成杂质半导体。因掺入的杂质不同,可将杂质半导体分为N型半导体和P型半导体两 类。

1. N型半导体

在本征半导体(如硅)中掺入微量的五价元素,如磷(或砷、锑等),这些微量的杂质原子掺入 后基本上不会改变本征半导体的晶体结构,只是在某些位置取代了硅原子。在磷原子的五个 价

电子中,有四个与其相邻的硅原子组成共价键,多余的1个价电子不受共价键的束缚,受原 子核的引力也较小,在室温下极容易脱离磷原子的吸引成为自由电子,而磷原子成为不能移 动的带正电荷的离子。除了磷原子提供的自由电子外,原晶体中也有由于

本征激发产生的自由电子和空穴。每个磷原子都能提供1个自由电子,却不能同时产生空穴 ,所以这些额外的自由电子使半导体中的自由电子数目大大增加,而空穴数目则远远小于

自由电子数目。因此,在这种掺杂半导体中,电子是多数载流子(简称多子),空穴是少数载流子(简称少子),这种杂质半

导体主要以电子的定向运动形成电流,故称为N型(电子型)半导体。

2. P型半导体

在本征硅(或锗)内掺入微量的三价元素,如硼(或铝、铟等),晶体中的某些位置被硼原子所 替代。由于硼原子最外层只有3个价电子,它们与相邻的四个硅原子组成共价键结构时,其 中1个共价键中必然留有1个空位。其他相邻硅原子中的价电子在室温下或其他能量的激发 下,很容易填补这个空位,使硼原子成为带负电的不能移动的离子。硅

原子中的价电子移走后,原来的位置就产生1个空穴。在常温下每个硼原子都能提供1个空 穴,但不能同时产生1个电子。除此之外,晶体中也存在由于本征激发而产生的电 子空穴对,其数目远远少于硼原子提供的额外的空穴数目。因此,在这种杂质半

导体内的两种载流子中,电子只占很少的一部分,绝大多数载流子都是空穴,所以空穴是多 数载流子,电子是少数载流子。显然,参与导电的载流子以空穴为主,故将这种杂质半导体 叫做P型(空穴型)半导体。

综上所述,在掺入杂质后,载流子的数目都有相当程度的增加。因而对半导体掺杂是改变半导体导电性能的有效方法。

无论是N型半导体还是P型半导体,其中的正电荷量与负电荷量

都是相等的。如在N型半导体内,磷原子失去电子后形成的正离子数与本征激发产生的空穴数之和,等于磷原子提供的

自由电子数与本征激发的自由电子数之和,所以自由电子是多数载流子并不表明N型半导体 带负电,它对外部呈现电中性; 类似地,P型半导体对外部也呈现电中性。

1.1.3PN结

在本征半导体中掺入杂质后,载流子数目剧增,相应导电能力也大大加强。

1. 半导体内部载流子的运动

半导体没有外加电场时,内部的载流子处于杂乱

无序的运动状态,它们自由地向各处移动。有外加电场后,载流子在电场作用下将有序地定 向运动。在呈电中性的半导体中,如

果一种载流子的分布不均匀,即浓度有差别时,载流子会从浓度高的区域向浓度低的区域扩散,载流子作微观上无序但宏观上有序的运动,从而形成 电流。这种由于载流子扩散运动形成的电流叫做扩散电流。

2. PN结的形成

在一块完整的硅片上,用一定的工艺使其一边形成P型半导体

,另一边形成N型半导体,在这两种不同半导体的交界面附近会形成一个特殊的区域——PN结。

N型半导体中电子是多数载流子,P型半导体中空穴是多数载流子,它们结合在一起时,存在 明显的浓度差。N区的电子必然向P区扩散,P区的空穴也必然向N区扩散。当载流子通过两 种半导体的交界面后,N区的电子与P区的空穴复合,P区的空穴与N区的电子复合,如图12

所示。在交界面附近,N区出现了带正电的杂质离子区域,这些杂质离子不能移动,不能 参与导电,结果使这一区域带有正电荷; P区同样出现不能移动的负离子,相应的这一区域

带有负电荷。这些正负离子所在区域形成一个空间电荷区,即PN结 。在空间电荷区内,P区空穴和N区的电子在扩散过程中复合,载流子

的数目很少,即载流子的浓度从很高迅速下降至很低,所以PN结又称为耗尽层。交界面两侧空间电荷的存在,使得这个区域产生了由N区指向P区的内电场 。载流子浓度越大,空间电荷区 越宽,内电场越强。注意到内电场的

方向与多子扩散运动的方向相反,所以它阻碍了 两区域多子的扩散,

图12PN结的形成

因此,又将PN结称为阻挡层。内电场虽然阻碍各方载流子向对方扩散,但却促使双方的少数载流子向对方

漂移(P区的电子向N区漂移,使空间电荷区内的正离子数减少; N区的空穴向P区漂移 ,使负离子数也减少),其结果是空间电荷区有变窄的趋势。另一方面,空间电荷区变窄后 ,内电场对多子扩散的阻碍作用减弱,又使得多数载流子继续向对方扩散,PN结又有加宽的 趋势。最终当扩散运动和漂移运动达到动态平衡时,PN结的宽度和内电场的场强都 稳定下来。

PN结的宽度一般为数微米。内电场的电压与半导体材料、掺杂浓度及环境温度有关。在室 温下,硅材料PN结的电压约为0.6~0.7V,锗材料PN结的电压约为0.1~0.3V。

3. PN结的特性

讨论PN结的性质时,不仅要了解其内部的情况,更重要的是通过它掌握PN结外加电压后所呈

现的特性,而PN结的基本特性就是单向导电性。另外,还存在着电容效 应,这在外加高频电压时就会呈现出来。

(1) 单向导电性

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第1章常用半导体器件 半导体器件是用半导体材料制成的电子器件,最常用的有二极管、三极管、场效应管、晶闸管、单结晶体管等。随着电子技术的飞速发展,各种新型半导体器件层出不穷,几乎所有电子设备都离不开半导体器件。因此,全面了解各种半导体器件的结构特点、工作原理、技术参数和性能及其适用范围,是学好电子技术的关键所在。 1.1半导体基础知识 自然界中的物质可以按导电能力的强弱分为导体、绝缘体和半导体。导电能力强的物质称为导体 ,不导电的物质称为绝缘体,导电能力介于导体和绝缘体之间的物质称为半导体(如硅、锗、硒等)。 半导体之所以得到广泛的应用, 是因为它具有热敏感性、光敏感性、掺杂敏感性等特殊性能。 1.1.1本征半导体 图11本征半导体结构模型 <

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