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关于残余应力的基本概念3

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  • 2025/6/2 20:59:46

iii)基本方程

根据Аксенов的晶格应变与宏观应变一致的基本思想,可得

εJφ,ψ=

-cotθ。(△θ) φ,ψ

=(1/2)S2·σφ·sin2Ψ+ S1(σ1+σ2)=εφ,ψ

(15)

式(15)就是X射线应力测定的基本方程。它表明了作用在试件表面某个方向的待测应力σφ和用X射线衍射技术确定的衍射线角位移(△θ) φ,ψ之间的关系。

22、X射线应力测定的sinΨ法

根据X射线应力测定基本方程式(15)

εJφ,ψ=(1/2)S2·σφ·sin2Ψ+ S1(σ1+σ2)

(16)

由于主应力之和(σ1+σ2)是应力不变量,所以上式的第二项为常量。上式表明,在平径角φ一定的任意截面内不同Ψ角方向的晶格应变εJφ,ψ与方位角Ψ的正弦平方(即sin2Ψ)线性相关。

若以测得的εJφ,ψ为纵坐标变量,以sin2Ψ为横坐标作图可得一条相关直线。

2、X射线应力测定的sin2Ψ法sin?2法测定应力的示意图mφ = εJφ,ψ/ sin2Ψ=(1/2)S2·σφ 即σφ= mφ/(1/2)S2=[1/(1/2)S2] (εJφ,ψ/ sin2Ψ)式(18)就是X射线应力测定中sin2Ψ法的基础。(17)(18)由于X射线衍射仪一般测得的是衍射角2θ,因此晶格应变的表达式(8)可改写为εJφ,ψ=-(1/2)cotθ。(2θφ,ψ-2θ。)(19)

代入式(18)可得

σφ=[1/(1/2)S2] (εJφ,ψ/ sin2Ψ)

={[1/(1/2)S2]·(-1/2)cotθ。} (2θφ,ψ/ sin2Ψ)(20)又由于X射线衍射仪测量出来的衍射角2θ往往用度为单位,在计算应力值时需换算成

弧度,故又得

σφ={[1/(1/2)S2]·(-1/2)cotθ。·(π/180)} (2θφ,ψ/ sin2Ψ)=K·M(21)其中

K=[1/(1/2)S2](-1/2)cotθ。(π/180)(22)K称为X射线应力常数,其单位为MPa/度。

M= 2θφ,ψ/ sin2Ψ (23)M是在不同Ψ方向测定的衍射线角位置2θφ,ψ与sin2Ψ直线关系的斜率。

如果知道了X射线应力常数K,又在-45°≤Ψ ≤+45°范围选择若干个Ψ方向测量衍射线角位置2θφ,ψ,作出2θφ,ψ与sin2Ψ之间的相关直线,并求出斜率M,就可以计算出σφ值。使用sin2Ψ法的前提条件是被X射线照射的材料表面区域处于平面应力状态,大多数情况下的实际测定对象是符合这个假定的。

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iii)基本方程根据Аксенов的晶格应变与宏观应变一致的基本思想,可得εJφ,ψ=-cotθ。(△θ) φ,ψ=(1/2)S2·σφ·sin2Ψ+ S1(σ1+σ2)=εφ,ψ(15)式(15)就是X射线应力测定的基本方程。它表明了作用在试件表面某个方向的待测应力σφ和用X射线衍射技术确定的衍射线角位移(△θ) φ,ψ之间的关系。22、X射线应力测定的sinΨ法根据X射线应力测定基本方程式(15)εJφ,ψ=(1/2)S2·σφ·sin2Ψ+ S1(σ1+σ2)(16)由于主应力之和(σ1+σ2)是应力不变量,所以上式的第二项为常量。上式表明,在平径角φ一定的任意截面内不同Ψ角方向的晶格应变εJφ,ψ与方位角Ψ的正弦平方(即si

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