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软件辅助音箱设计技术 最后修正

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  • 2025/5/2 22:08:54

图2-3-14:比较放置吸音材料后区别的方法

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图2-3-15:比较放置吸音材料后的区别

介绍完远场测量,接着说说近场测量。由于远场测量低频段容易受室内反射的影响变得极不准确,JUSTMLS用近场方式来测量低频段。

我们需要移动MIC的位置,使得MIC的距离离低音单元中心的振膜比较接近,本例中大概5CM,可以更近

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些,比如1CM。

图2-3-16:近场测量

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还是回到频响测量界面,按照下图红圈内,距离填个6,时间窗100MS,然后点击开始,得到下图测量结果:

图2-3-17:近场测量的结果

然后我们依旧回到时域画面,看到如下画面:时

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图2-3-14:比较放置吸音材料后区别的方法 - 41 - 图2-3-15:比较放置吸音材料后的区别 介绍完远场测量,接着说说近场测量。由于远场测量低频段容易受室内反射的影响变得极不准确,JUSTMLS用近场方式来测量低频段。 我们需要移动MIC的位置,使得MIC的距离离低音单元中心的振膜比较接近,本例中大概5CM,可以更近- 42 - 些,比如1CM。 图2-3-16:近场测量 - 43 - 还是回到频响测量界面,按照下图红圈内,距离填个6,时间窗100

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