微分干涉显微镜对表面光洁度的测定

微分干涉显微镜对表面光洁度的测定：

电解抛光，化学抛光时，表面质量可用微分干涉金相显微镜加以鉴定。根据干涉条纹的形状可知表面光洁度的好坏，如条纹弯曲不大说明抛光或表面较平整。

微分干涉显微镜对金属塑性变形的研究：

用微分干涉显微镜可以精确地测定滑移带高度及多晶体试样内各处的变形程度等。

微分干涉显微镜对金相试样因共格相变发生浮凸的研究： 在金属里面的马氏体，贝氏体及魏氏体组织，用微分干涉金相显微镜能有效地鉴定表面浮的形状。用它进行观察可以使表面的肉眼无法观察到的浮凸体明显地程现出来。

微分干涉显微镜对LCD行业的检察应用：

在目前市场上供不应求的LCD行业来说，这是最适合不过的了，LCD属于一种精密型的产品，生产过程中许多部件都要用到显微镜。微分干涉金相显微镜主要用于在导电粒子方面的观察，这种粒子小到四五微米，肉眼根本玩法看见。用该类显微镜则方便许多。

在 金相显微镜检验方法中，微分干涉相衬法（DIC）是金相检验的一种强有力的工具，其特点主要为:

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对金相样品的制备要求降低，对于某些样品，甚至只需抛光而不必腐蚀处理即可进行观察。优点是可以观察到样品表面的真实状态，如将试样抛光后在真空下发生马氏体相变，不用腐蚀就可以观察到马氏体的相变浮凸。

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所观察到的表面具有明显的凹凸感，呈浮雕状，样品各组成相间的相对层次关系都能显示出来，对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等都能作出正确的判断，提高了 金相检验准确性，同时也增加了各相间的反差。

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用微分干涉相衬法观察样品，会看到明场下所看不到的许多细节，明场下难于判别的一些结构细节或缺陷，可通过微分干涉进行反差增强而容易判断。

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微分干涉相衬法基于传统的正交偏光法，又巧妙地利用了在渥拉斯顿棱镜基础上改良的DIC 棱镜和补色器（λ-片）等，使所观察的样品以光学干涉的方法染上丰富的色彩，从而可利用彩色胶卷或者数码产品（CCD 摄像头以及数码相机）进行彩色金相显微摄影。由于微分干涉相衬得效果与样品细节的浮雕像以及色彩都是可以调节的，因而比正交偏光更为优越。